报告题目：High-Sensitivity LEIS: A new tool in the understanding of the performance of Catalysts and other (sub-) nanometer materials
（报告内容：高灵敏度低能离子散射谱在化学相关领域的应用，最近在表面组成、厚度、价态等分析的进展…）
报告人： Prof. Hidde Brongersma
（HS-LEIS分析器设计者）
Eindhoven University of Technology (Netherlands)
Imperial College London
Ion-TOF
时间： 10月31日(周三) 下午4:00
地点： 卢嘉锡楼报告厅（202）
欢迎感兴趣的老师与学生参加。
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