报告题目：高灵敏度低能离子散射谱（HS-LEIS）及X射线光电子能谱（XPS）联用技术在表面研中的应用

报告人：郑燕萍工程师, 厦门大学化学化工学院

时间：2023年04月13日09:00

地点：卢嘉锡楼202报告厅

报告摘要：

报告摘要：1、介绍高灵敏度低能离子散射谱（HS-LEIS）的原理及应用。2、对比高灵敏度低能离子散射谱（HS-LEIS）和X射线光电子能谱（XPS）在固体表面元素定量定性分析应用中的差异性和优劣性。

报告人简介：

郑燕萍，工程师，从事高灵敏度低能离子散射谱（HS-LEIS）及X射线光电子能谱（XPS）联用仪的管理以及应用工作，开发相关仪器原位表征应用技术。